Популярная в настоящее время тема разработок, связанных с нанотехнологиями, затронула и отрасль тяжелых металлов. Нанопокрытия, как частный случай, исследовались в институтских лабораториях, которые ставили перед собой проблемы микроскопического анализа поверхностей. Изучались поверхности с различной геометрией шероховатости, а также возможность разработок технологий по выращиванию поверхностей с заданной наноструктурой.
В этих исследованиях использовались вольфрамовые зонды. Вольфрамовая проволока в качестве зондов для сканирующего туннельного микроскопа, который используется для получения изображении на атомном уровне, позволяет исследовать неоднородность электрических свойств образцов. Вольфрамовое острие и изучаемый образец имеют расстояние в несколько ангстрем (0,1 нм). Подача на иглу относительно образца небольшого потенциала образует туннельный ток.
Движение иглы вдоль поверхности образца позволяет построить карту высот. Фиксированная высота движения иглы дает топографию поверхности.